Ｘ線光電子分光分析装置
| メーカー | アルバック・ファイ（株） |
|---|---|
| 型式 | PHI Quantera SXM |
| 用途 | 材料の極表面から放出される光電子のエネルギーを解析し、化学結合状態の分析を行います。 |
| 購入年 | 2009年12月 |
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