セミナー「画像解析による粒子計測　～基礎から応用まで～」を開催します（6月13日開催）

　佐賀県工業技術センターでは、次世代型の画像解析式粒度分布測定装置を新たに導入しました。

　この装置では、数万個以上の大量の粒子画像から全自動で粒子径と形状を処理し、高精度の分析結果を迅速に導きます。

　画像解析による粒子計測の原理や特徴、応用例について、装置による測定の実演を交えて紹介します。

　画像解析による粒子計測とは？

　食品・コスメ分野において、粒子の大きさや形状は製品の舌触りや喉ごし、使い心地などの品質に大きく関わっており、粒子計測は重要な技術です。顕微鏡等の画像解析による粒子計測は、ISOにも記載された手法ですが、近年の情報処理技術の発達に伴い、高精度かつ迅速に測定できるようになりました。

　画像解析による粒子計測により、粒子径分布だけでなく、粒子の形状（球状、棒状、繊維状など）が計測できます。このことは、粒子の不均一性や形状ー品質の関係把握、異物の解析等に大きな力を発揮します。

　画像解析による粒子計測により、次のような解析が可能です。

　　〇野菜パウダー等の粉末加工品のサイズ・形状解析

　　〇異物粒子の形状・個数解析

　　〇乳化状態、乳化粒子径の解析

　　チラシはこちら (779KB; PDFファイル)

１　日時

　令和7年 (2025年) 6月13日（金曜日） 13時30分〜16時15分

2　場所

　佐賀県工業技術センター 本館1F技術研修室　（佐賀市鍋島町八戸溝114）

3  内容

　13:30～14:30　講演　「画像解析による粒子計測　～基礎から応用まで～」

　14:45～16:15　画像解析式粒度分布測定装置　（Malvern Panalyticalモフォロギ4）による測定の実演　

　　　　　　　　　　　講師：スペクトリス株式会社 マルバーン・パナリティカル事業部　笹倉　大督　博士

4  参加費

　無料

5　定員

　30名程度　（申込者多数の場合，佐賀県内企業の方を優先させていただきます．）

6  お申込

　下記リンクもしくはQRコードにアクセスし，フォームからお申し込みください． 　【申込期限 6月10日（火曜日）】

　お申込フォーム (新しいウインドウが開きます)

7　お問い合わせ先

　食品コスメ部　柘植（ツゲ）　　※TEL, E-mailは下記に記載